W 3504 und W 3525

Die schnellen Testsysteme für Leiterplatten und Racks

Die W 3504 und W 3525 Testsysteme sind ideal geeignet für den Test von mittelgroßen bis sehr großen Backplanes und Racks. Sie sind in der Lage, sehr schnell eine große Anzahl von Verbindungen zu testen – bis zu 300.000 Testpunkte sind denkbar!

 

Die Integration der Testpunkte in mobile Daisy-Chain Kassetten erspart komplizierte und fehleranfällige Adaptionen und hat eine höhere Messgenauigkeit. Sie erlaubt außerdem eine schnellere, automatisierbare Kontaktierung und hat damit einen höheren Durchsatz zur Folge.

 

Highlights

  • Hohe Testgeschwindigkeit bei gleichzeitig optimierter Messgenauigkeit
  • Große Variabilität bei der Konfiguration des Testsystems
  • Ideale Anpassung an die bestehende Fertigungsumgebung

 

Hohe Testgeschwindigkeit bei gleichzeitig optimierter Messgenauigkeit

  • Kurze Testzeiten durch die Verwendung von Einzeltransistoren (Singlepunktmatrix)
  • Hohe Messgenauigkeit durch die Minimierung der Länge der Adaptionskabel und der Anzahl der Steckverbindungen zwischen Testpunkten und Prüfling

 

Große Variabilität bei der Konfiguration des Testsystems

  • Große Auswahl an Testpunktmodulen: mit 32, 128, 192 oder 256 Testpunkten lieferbar
  • Optionale Erweiterungseinheiten mit stationären Testpunktkarten

 

Ideale Anpassung an die bestehende Fertigungs- und Testumgebung

  • Individuelle Ausstattung der Daisy-Chain-Kassetten nach Kontaktzahl und Form der Zielstecker mit Testpunkten und Gegensteckern
  • Minimale Anzahl von Verbindungskabeln, da ein Daisy-Chain-Kabel die erste Kassette mit dem Tester verbindet und dann jeweils nur ein Daisy-Chain-Kabel eine Kassette mit der nächsten verbindet
W 3525 Testsystem (Vorderseite)

Typische Anwendungen

  • Test von Backplanes, Rückwandverdrahtungen, Einschubmagazinen und Schaltstellen
  • Test und Messung von Bauteilen innerhalb der Verdrahtung
  • Test von Tastaturen, Schnittstellen und Schaltgruppen

Unterstützte Testarten

  • Verbindungstest
  • Schlusstest
  • Bauteiltest
  • Funktionstest von Tastern und Schaltern