Breite Palette an Testsystemen auf Messe in Kalifornien

WEETECH präsentierte Testsysteme für Niederspannung und Hochspannung auf der Space Tech Expo

02.06.2017

Gurnee, IL/Pasadena, CA. Dieses Jahr fand die Space Tech Expo im Pasadena Convention Center statt. Auf etwa 2.300 qm drängten sich die 250 wichtigsten Firmen der Luft- und Raumfahrtindustrie der Vereinigten Staaten. Die amerikanische Niederlassung der deutschen WEETECH GmbH brachte gleich vier ihrer bewährten Testsysteme für den Kabeltest und den elektrischen Funktionstest mit und stellte Sie auf dem etwa 9 qm großen Messestand den Zuschauern vor.

 

Darunter befanden sich mit dem WK 260 MU und dem WK 260 PC die beiden neuesten Testgeräte, die ganz neue Funktionalitäten in die Klasse der kompakten Niederspannungstester bringen. 4-Draht-Messung zur Messung sehr kleiner Widerstände oder die ID-Chip-Erkennng von Test-Adaptern sind nur zwei Beispiele dafür.

 

Mit den beiden Hochspannungstestsystemen W 444 und W 454 (mit verteilter Testpunktmatrix) sowie der dazugehörigen Prüf- und Programmiersoftware CEETIS konnten die Besucher sehen, wie einfach die Programmierung auch für sehr komplexe Testabläufe sein kann. Features wie die graphische Anzeige der Netzliste oder die automatische Prüfprogrammerstellung mit der Bauteilebibliothek heben die Möglichkeiten auf ein ganz neues Niveau.

 

WEETECH hat auf der Space Tech Expo klar demonstriert, dass bei der kontinuierlichen Weiterentwicklung der Testsysteme ihre Anwender im Mittelpunkt stehen. Neue Features kombiniert mit der ausgereiften Hardware erweitern die Anwendungsmöglichkeiten und verbessern die Bedienerfreundlichkeit.

WEETECH zeigte auf der Space Tech Expo in Pasadena, CA, USA eine breite Palette von Testsystemen - vom kompakten Niederspannungstester bis zum Hochspannungtestsystem mit verteilter Matrix.

WEETECH zeigte auf der Space Tech Expo in Pasadena, CA, USA eine breite Palette von Testsystemen - vom kompakten Niederspannungstester bis zum Hochspannungtestsystem mit verteilter Matrix.